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NexION 5000 ICP-MS Multipol

Das Multi-Quadrupol-NexION 5000 ICP-MS übertrifft das aktuelle Marktangebot und bietet Lösungen, um auch die anspruchsvollsten Herausforderungen bei der Spurenelementanalyse zu erfüllen.

Vier Quadrupole bieten die beste Ionenstrahlsfokussierung, um spektrale Interferenzen zu unterdrücken oder zu eliminieren

Quadrupol-Ionen-Deflektor (QID) optimiert den Bereich der übertragenen Massen, verbessert die Empfindlichkeit und eliminiert Photonen und neutrale Teilchen

Transmission Analyzer Quadrupole (Q1 und Q3) bieten idente Massenauflösung und arbeiten in den Modi MS/MS, Mass-Shift oder Scannen.

Universal Cell Technology (UCT, Q2) unterscheidet aktiv zwischen Analytionen und möglichen Nebenprodukte, das beste „Tool“ zur Entfernung von Interferenzen

Triple Cone-Interface mit OmniRing ™ arbeitet im Extraktions-, Fokussierungs- oder Kaltplasmamodus für hervorragende Nachweisgrenzen, bei höchster Stabilität

Der einzigartige 34-MHz-HF-Plasmagenerator verarbeitet die härtesten Matrices und Lösungsmittel

Darüber hinaus bietet das NexION 5000 ICP-MS-System:

Benutzerfreundliche Syngistix ™ -Software (mit integrierten Methoden), die komplexe Triple-Quad-Workflows vereinfacht

Verbrauchsmaterialien und Verbrauchsmaterialien, die im Labor getestet wurden, um die höchsten Leistungsstandards zu erfüllen

OneSource® Laboratory Services mit Teams aus ausgebildeten Wissenschaftlern und Ingenieuren, die Ihnen ihr Wissen zur Verfügung stellen.

  • Überlegene Möglichkeiten zur Entfernung von Interferenzen
  • Exzellente Stabilität und Robustheit
  • Unerreichte Matrixtoleranz
  • Geringster Wartungsaufwand
  • Patentiertes „Triple Cone Interface“ für höchste Sensitivität und Empfindlichkeit

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